[发明专利]一种基于机器学习的集成电路ATE自动复测系统及方法在审
| 申请号： | 202210567431.0 | 申请日： | 2022-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN114660443A | 公开（公告）日： | 2022-06-24 |
| 发明（设计）人： | 毛国梁;李全任;包智杰 | 申请（专利权）人： | 南京宏泰半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06N20/00 |
| 代理公司： | 南京新众合专利代理事务所(普通合伙) 32534 | 代理人： | 彭雄 |
| 地址： | 210000 江苏省南京市浦口区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于机器学习的集成电路ATE自动复测系统及方法，包括测试程序控制器、复测监控程序控制器、预测模型训练控制器，首先根据复测信息对被测器件集进行测试，然后根据测试结果数据，调用预测模型训练控制器生成的预测模型判断被测器件集是否需要复测，若需复测，则将复测信息发送给测试程序控制器；所述预测模型训练控制器用于根据复测数据建立训练数据队列，同时用于根据机器学习方法，生成预测模型，供复测监控程序控制器调用。本发明不仅能够避免芯片损伤，而且提高了芯片良率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 机器 学习 集成电路 ate 自动 复测 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京宏泰半导体科技有限公司，未经南京宏泰半导体科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210567431.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种落脚点定位方法、装置及电子设备
- 下一篇：一种三单相兼容MISN变换器
