[发明专利]射频芯片的测试设备有效
| 申请号： | 202210573340.8 | 申请日： | 2022-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN114660444B | 公开（公告）日： | 2022-09-16 |
| 发明（设计）人： | 周健;祖昀樵;陆建华 | 申请（专利权）人： | 南京燧锐科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/02;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 王金双 |
| 地址： | 211800 江苏省南京市中国（江苏）自由*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种射频芯片的测试设备，属于芯片测试领域。测试设备的第一托板中与第二托板相对的第一表面上设有探针和至少两个压力传感器；第二托板中与第一托板相对的第二表面上设有用于放置射频芯片的芯片槽，射频芯片的引脚与探针相对，压力传感器用于测量探针与引脚之间的压力值；当探针与引脚第一次接触，且至少两个压力传感器测量的压力值相等时，控制探针远离引脚；当探针与引脚第二次接触，且压力值达到目标压力值时，利用探针测试射频芯片，目标压力值是射频芯片能够被测试且不损坏探针和射频芯片时的压力值。本申请可以避免人力资源的浪费，能够在正常测试射频芯片的同时保护探针和射频芯片，增加测试设备和射频芯片的使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 芯片 测试 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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