[发明专利]一种APD芯片光敏面与TO光器件之间的同心度检测方法在审
| 申请号： | 202210579844.0 | 申请日： | 2022-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN115035053A | 公开（公告）日： | 2022-09-09 |
| 发明（设计）人： | 王旭东;陈涛;黄春生;程华灼;黄常浩;冯燕坡;刘梦雅;董元旦;田忠;罗颖川 | 申请（专利权）人： | 微网优联科技(成都)有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/155;G06T7/13;G06T7/62 |
| 代理公司： | 成都金英专利代理事务所(普通合伙) 51218 | 代理人： | 袁英 |
| 地址： | 610500 四川省成都市新*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种APD芯片光敏面与TO光器件之间的同心度检测方法，包括如下步骤：接收TO光器件，并将封装好的TO光器件放置于智能显微镜下；通过智能显微镜获取TO光器件图像信息，所述TO光器件图像信息包括TO轴向外框图像信息和APD芯片光敏面图像信息；通过HALCON算法分别计算出TO轴向外框图像中心位置和APD芯片光敏面图像圆心位置；计算TO轴向外框图像中心位置和APD芯片光敏面图像圆心位置之间的实际距离n，并根据实际距离n与距离阈值m的大小关系，来确定TO光器件是否合格。本发明极大程度上提升了APD芯片光敏面与TO光器件之间同心度的检测效率及准确性，保证了TO光器件在封装制造过程中的品质。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 apd 芯片 光敏 to 器件 之间 同心 检测 方法 | ||
【主权项】：
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