[发明专利]一种稳定同位素丰度的质谱测定方法在审
| 申请号： | 202210583252.6 | 申请日： | 2022-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN115096978A | 公开（公告）日： | 2022-09-23 |
| 发明（设计）人： | 曹金浩;杨凤诚;侯超;窦鑫;刘佳龙 | 申请（专利权）人： | 核工业理化工程研究院 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 天津创智睿诚知识产权代理有限公司 12251 | 代理人： | 李薇 |
| 地址： | 300000 *** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种稳定同位素丰度的质谱测定方法，包括以下步骤：步骤1，使用质谱仪对稳定同位素进行磁场扫描，磁场扫描后，选定信号合适的法拉第杯得到的图谱，以该图谱中同位素信号明显的价态作为待测离子；步骤2，由步骤1得到的同位素离子信号初步粗略确定丰度占比，然后，对各同位素离子选择法拉第杯；步骤3，确定每个同位素离子在对应法拉第杯的磁场位置；步骤4，分别在对应的磁场位置下进行每一个同位素离子信号的测量，得到每一个同位素离子信号值；步骤5，利用步骤4得到的每一个同位素离子信号值进行丰度计算，得到每一个稳定同位素的丰度。本发明的方法操作简单，效率高，测量准确，应用范围广。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 稳定 同位素 测定 方法 | ||
【主权项】：
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