[发明专利]相控阵天线阵元通道相位偏转特性测试方法在审
| 申请号： | 202210593461.9 | 申请日： | 2022-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN114994420A | 公开（公告）日： | 2022-09-02 |
| 发明（设计）人： | 杜丹;王文政;扈景召;官劲;胡阳 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十研究所 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 成飞(集团)公司专利中心 51121 | 代理人： | 郭纯武 |
| 地址： | 610036 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提出的相控阵天线阵元通道相位偏转特性测试方法，简单可靠、耗费硬件资源小、易于实现。本发明通过下述技术方案予以实现：步骤1、测试准备：首先进行空间位置定标；步骤2、相位中心测试：将天线测试控制系统产生的发射触发信号通过光纤送至信号源，通过暗室实验转台的方式找到待测阵元天线的相位中心，形成上、下行波束；步骤3、偏转相位特性测试：利用三维调整机构暗室实验转台各轴，分别将所有接收通道的接收数据送至测试控制系统中的数据采集单元，测量出阵元天线的实际相位中心及相位偏转特性，找到阵元天线的相位偏转特性，按偏转的方位角与俯仰角绘制出阵元天线相位偏转特性图，以此为基础修正相控阵的天线阵元的通道相位。 | ||
| 搜索关键词： | 相控阵 天线阵 通道 相位 偏转 特性 测试 方法 | ||
【主权项】：
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