[发明专利]一种纳米级针尖状透射电镜样品的制备方法在审

专利信息
申请号: 202210595583.1 申请日: 2022-05-26
公开(公告)号: CN114964968A 公开(公告)日: 2022-08-30
发明(设计)人: 李慕鸿;申华海;邹成琴;周晓松 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28;G01N23/20008
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心 51210 代理人: 任荣坤
地址: 621999*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种纳米级针尖状透射电镜样品的制备方法。该方法包括以下主要步骤:(1)在目标区域沉积碳化物保护层,切割获得长方体样品;(2)将长方体样品转移至微柱,利用铂碳化物沉积使之固定于微柱顶部中央;(3)利用聚焦离子束对长方体样品进行环状减薄,制备出具有环状保护层的微米级圆柱状样品;(4)采用聚焦离子束对圆柱状样品顶端进行逐级减薄,制备得到尖端直径小于30nm、锥角小于30°、薄区(直径小于80nm)长度大于50nm的纳米级针尖状透射电镜样品。该技术解决了针尖状透射电镜样品尖端易晃动、易弯曲损坏的问题,可有效制备得到具有极薄尖端的纳米级针尖状样品,实现了对样品气泡、孔道及析出相的三维空间信息高分辨分析。
搜索关键词: 一种 纳米 针尖 透射 样品 制备 方法
【主权项】:
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