[发明专利]一种超高密度连接系统三维扇出型封装结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202210604145.7 申请日: 2022-05-30
公开(公告)号: CN115206948A 公开(公告)日: 2022-10-18
发明(设计)人: 陈彦亨;林正忠 申请(专利权)人: 盛合晶微半导体(江阴)有限公司
主分类号: H01L25/07 分类号: H01L25/07;H01L23/31;H01L21/56;H01L21/60;H01L23/488
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 罗泳文
地址: 214437 江苏省无锡市江阴市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种超高密度连接系统三维扇出型封装结构及其制作方法,结构包括第一绝缘层、第一金属焊垫、金属柱、第一半导体芯片、第二绝缘层、第二金属焊垫、第一模塑层、第一重新布线层、第二半导体芯片、第二模塑层、第二重新布线层及焊球。该结构使用RDL first制程,第一、第二金属焊垫之间为非焊接界面,可以实现10um甚至5um以下的间距键合,远小于传统焊接间距,从而增加I/O封装数量,完成高密度高集成度的器件封装。另外,本发明可以同时整合毫米波天线/电容/电感/电晶体/GPU/PMU/DDR/闪存/滤波器等各种电子芯片和元器件,实现高性能系统级封装,灵活性更高且具有广泛的相容性。
搜索关键词: 一种 超高 密度 连接 系统 三维 扇出型 封装 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
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