[发明专利]自动测试系统的测试程序集参数化设计方法、系统及介质在审
| 申请号： | 202210614717.X | 申请日： | 2022-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN115114145A | 公开（公告）日： | 2022-09-27 |
| 发明（设计）人： | 肖勇;周阳明;陈维波;李乐;刘潇龙 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十研究所 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 王会改 |
| 地址： | 610000 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种自动测试系统的测试程序集参数化设计方法、系统及介质，所述方法包括：将测试程序集相关内容封装形成类；将设计所述测试程序集所需的接口函数封装为类的方法；根据各所述类的方法，实现设计所述测试程序集所需数据的参数化。本发明将测试程序集涉及的内容在底层进行抽象封装形成各类，类的方法提供给设计者调用，方法的变量与默认参数供设计者参考修改，无需关注底层驱动代码，或重复设计底层驱动代码，从而使测试程序集的设计更加简单和高效。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 测试 系统 程序 参数 设计 方法 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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