[发明专利]一种用于低温折射率测试的大温区精密控温装置及方法在审
| 申请号： | 202210617887.3 | 申请日： | 2022-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN115184303A | 公开（公告）日： | 2022-10-14 |
| 发明（设计）人： | 刘伏龙;宋欣阳;行麦玲;郭成亮;马帅;张宁;高长春;王云彬 | 申请（专利权）人： | 北京空间机电研究所 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41;G05D23/24 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 陈鹏 |
| 地址： | 100076 北京市丰*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种用于低温折射率测试的大温区精密控温装置及方法，通过包括测试样块、冷板、导热锁、制冷机二级冷头、制冷机一级冷头、隔热支架、转台、冷屏、真空泵、真空罐体、隔热支撑、精密控温仪的精密控温装置，进行红外光学透镜样件40K‑300K范围的精密温度控制，能够使样件的控温精度达到±0.2K，测温精度达到±0.02K，温度稳定度达到0.1K/h，温度均匀性达到0.03K，降温时间：从293K连续降至40K的时间不超过4h；升温时间：在40K‑300K范围内，由任意温度点开始，升温40K并稳定的时间不超过30min；升降温速率：不大于4K/min。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 低温 折射率 测试 大温区 精密 装置 方法 | ||
【主权项】：
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