[发明专利]一种纺织电控系统用可控硅的导通角检测设备及方法在审

专利信息
申请号: 202210618968.5 申请日: 2022-06-02
公开(公告)号: CN114879003A 公开(公告)日: 2022-08-09
发明(设计)人: 潘志高;高国敬;冯晓朋;孟祥;刘桂青;胡军祥 申请(专利权)人: 浙江恒强科技股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 浙江千克知识产权代理有限公司 33246 代理人: 任婷婷
地址: 311100 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及纺织电控系统用可控硅技术领域,具体为一种纺织电控系统用可控硅的导通角检测设备及方法。一种纺织电控系统用可控硅的导通角检测设备,包括检测设备本体,包括光耦,其工作在饱和区或截止区;第一电阻,其第一端与所述光耦正边的正极连接;第一电源,与所述第一电阻的第二端连接;第二电阻,其第一端与所述光耦副边的第一接口端连接;第三电阻,其第一端与所述光耦副边的第二接口端连接;第一连接接口,与所述第二电阻的第二端连接,且用于与待检测可控硅的第一阳极连接;第二连接接口,与所述第三电阻的第二端连接,且用于与所述待检测可控硅的第二阳极连接。本申请的导通角检测设备及方法能够非常简便地实现双向可控硅的导通角检测。
搜索关键词: 一种 纺织 系统 可控硅 导通角 检测 设备 方法
【主权项】:
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