[发明专利]微推力测量装置及方法在审

专利信息
申请号: 202210647172.2 申请日: 2022-06-09
公开(公告)号: CN115248120A 公开(公告)日: 2022-10-28
发明(设计)人: 李星辰;封锋;王泽文;姚雯 申请(专利权)人: 中国人民解放军军事科学院国防科技创新研究院
主分类号: G01M15/00 分类号: G01M15/00;G01L1/12
代理公司: 北京奥文知识产权代理事务所(普通合伙) 11534 代理人: 张文
地址: 100071*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种微推力测量装置及方法,该微推力测量装置包括工作底板、枢轴及固定模块、三轴位移台、扭摆横梁、直线导轨、位移传感器、微推力产生器及配重砝码,直线导轨安装在工作底板上,直线导轨由长导轨与短导轨组成,扭摆横梁设置在长导轨与短导轨之间,长导轨与短导轨的远离扭摆横梁的一端均安装有滑块,长导轨的滑块设有待被测量微推力的微推力发动机,短导轨的滑块设有配重砝码,位移传感器和微推力产生器分别设置在长导轨的两侧,三轴位移台通过枢轴及固定模块安装在扭摆横梁上。本发明的微推力测量装置及方法可实现微纳卫星微推进系统亚毫牛量级的微推力测试,操作简便,提高了测量精度,增加了测试系统的量程,降低了成本。
搜索关键词: 推力 测量 装置 方法
【主权项】:
暂无信息
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