[发明专利]一种低维光电材料的性能测试装置在审

专利信息
申请号: 202210656728.4 申请日: 2022-06-11
公开(公告)号: CN115236071A 公开(公告)日: 2022-10-25
发明(设计)人: 鲍晶晶;麦强;卞建勇;纪洋;洪晓婷 申请(专利权)人: 东莞职业技术学院
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01N3/20;G01N3/04
代理公司: 西安研创天下知识产权代理事务所(普通合伙) 61239 代理人: 谢亚娟
地址: 523808 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明涉及一种利用光源和机械应力性能试验装置,尤其涉及一种低维光电材料的性能测试装置。本发明提供一种测试环境封闭,保证了测试的效果,测试方式多样化的低维光电材料的性能测试装置。本发明提供了这样一种低维光电材料的性能测试装置,包括有:框体,框体的形状为内部镂空的台锥形;检验灯,框体内部镂空的一侧设有检验灯,用于发出不同光线;面板,框体的一侧设有面板。通过检验灯对低维光电材料进行光电转换性能测试,通过锥形框盖住机架形成封闭式的测试环境,保证了测试的效果,通过机械应力对低维光电材料的强度性能,以此多样化地进行测试。
搜索关键词: 一种 光电 材料 性能 测试 装置
【主权项】:
暂无信息
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