[发明专利]基于FPGA的Nandflash自主坏块管理方法和系统在审
| 申请号： | 202210666041.9 | 申请日： | 2022-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN115268765A | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 李斌 | 申请（专利权）人： | 华东计算技术研究所（中国电子科技集团公司第三十二研究所） |
| 主分类号： | G06F3/06 | 分类号： | G06F3/06;G06F12/0882 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 王丹东 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供了一种基于FPGA的Nandflash自主坏块管理方法和系统，包括：步骤1：在芯片出厂时，进行坏块出厂检索；步骤2：对坏块信息进行维护；步骤3：进行块地址映射；步骤4：对Nandflash接口进行互斥调度。本发明将坏块管理移到FPGA中来实现，既给CPU减负，使其能更好地完成其他系统级的任务，又充分利用了FPGA快速响应，并行处理的优点，高效可靠地完成Nandflash的存储回放功能。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 fpga nandflash 自主 管理 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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