[发明专利]一种MOSFET开度检测系统及方法在审
| 申请号： | 202210667822.X | 申请日： | 2022-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN115236472A | 公开（公告）日： | 2022-10-25 |
| 发明（设计）人： | 舒治成;何文;吴光勋 | 申请（专利权）人： | 重庆长安汽车股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H04W84/12 |
| 代理公司： | 重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 | 代理人： | 李晓兵 |
| 地址： | 400020 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种MOSFET开度检测系统及方法，系统包括可调恒流电源、开关电源、MOSFET开度检测装置、功率箱和被测目标板；所述MOSFET开度检测装置包括MCU1及其外围电路、继电器及其驱动电路、电流信号检测电路、WIFI模块及其外围电路和信号触发驱动电路；所述被测目标板包括MOSFET、MCU2及其驱动电路和信号转换电路；所述功率箱作为所述MOSFET的驱动负载。本发明采用外置的可调恒流电源作为被测目标板的电源，外置的开关电源作为MOSFET开度检测装置的系统电源，而MOSFET开度检测装置通过WIFI模块与计算机连接，实现计算机指令的下发和监测数据的返回；多次反复测试后，得出MOSFET的实际开度结果，实现准确地测量MOSFET开度，从而有助于知道控制器的设计过程，使得控制器的发热量降到最低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 mosfet 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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