[发明专利]一种基于晶体线偏器的透射式双通道压缩成像方法及系统有效
申请号: | 202210670241.1 | 申请日: | 2022-06-14 |
公开(公告)号: | CN115052091B | 公开(公告)日: | 2023-05-09 |
发明(设计)人: | 常军;黄翼;李轶庭;曹佳静;田江宇 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | H04N23/55 | 分类号: | H04N23/55;H04N23/95;H04N23/951;G02B27/28;G02B5/30 |
代理公司: | 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙) 11639 | 代理人: | 邬晓楠 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开的一种基于晶体线偏器的透射式双通道压缩成像方法及系统,属于计算成像技术领域。本发明通过双通道共用像面压缩成像,实现单次曝光同时捕获双通道图像,在相同探测器情况下,将时间分辨率提高一倍,在相同成像时间分辨率精度要求下,数据量降低一倍。本发明将双通道共用像面获取的混合图像采用频域压缩方式分离,在无需增加扫描装置情况下扩大成像视场。本发明通过基于晶体线偏器的透射式双通道压缩成像,解决光学成像视场和焦距的矛盾,实现大视场和长焦距并存成像,显著提高监控跟踪系统的目标识别概率的效果,还可获取目标的偏振信息,且具有成像系统分辨率高、带宽窄、简易装调、加工可行性高、结构紧凑、稳定性高、经济性好优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 晶体 线偏器 透射 双通道 压缩 成像 方法 系统 | ||
【主权项】:
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