[发明专利]一种用于芯片平面度检测的自动化设备及其使用方法在审
| 申请号： | 202210699605.9 | 申请日： | 2022-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN115069587A | 公开（公告）日： | 2022-09-20 |
| 发明（设计）人： | 郭志红;麦荣俊;程利芹 | 申请（专利权）人： | 博睿自动化设备（广州）有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/04 | 分类号： | B07C5/04;B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38 |
| 代理公司： | 上海尚象专利代理有限公司 31335 | 代理人： | 郑婷 |
| 地址： | 510000 广东省广州市黄埔区宏*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及机械领域，具体涉及一种用于芯片平面度检测的自动化设备。一种用于芯片平面度检测的自动化设备，包括设备本体，设备本体包括基座，基座上设有第一分盘机构，第一分盘机构一侧设有传送带，设备本体包括检测装置、分拣装置，检测装置设置在分拣装置的前侧；检测装置设置在传送带的一侧，检测装置包括第一机械手、摄像头；分拣装置设置在传送带的一侧，分拣装置包括第二机械手、第一固定料盘、第二固定料盘。本发明通过检测装置与分拣装置的配合工作，提升了对芯片外观的检测精度，提高了生产效率、降低生产成本、保障产线稳定，有利于产线自动化。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 芯片 平面 检测 自动化 设备 及其 使用方法 | ||
【主权项】：
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