[发明专利]缺陷修复方法、光学修复设备、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210705298.0 | 申请日： | 2022-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN114782286A | 公开（公告）日： | 2022-07-22 |
| 发明（设计）人： | 陈龙;曹沿松 | 申请（专利权）人： | 奥蒂玛光学科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/12;G06T7/13;G06N3/08;G06N3/04;G06V10/44;G06V10/82 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 田茂虎 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种缺陷修复方法、光学修复设备、电子设备及存储介质。该缺陷修复方法应用于光学修复设备，该方法包括：获取电路板的检测图像；其中，检测图像包括电路板区域；提取电路板区域中至少一种缺陷实例及其对应的缺陷位置信息和缺陷轮廓信息；基于缺陷位置信息和缺陷轮廓信息规划对应于至少一种缺陷实例的缺陷修复路径，并基于缺陷修复路径对电路板进行修复。通过上述方式，利用电路板的检测图像提取出电路板区域中的缺陷位置信息和缺陷轮廓信息，然后再通过缺陷位置信息和缺陷轮廓信息，规划缺陷实例的修复路径并对电路板进行修复，以达到修复缺陷的目的，从而能够提高电路板的生产质量和优化电路板的修复流程、减少人力资源的消耗。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 修复 方法 光学 设备 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于奥蒂玛光学科技（深圳）有限公司，未经奥蒂玛光学科技（深圳）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210705298.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
