[发明专利]碳化硅半导体功率晶体管及制造其的方法在审
申请号: | 202210714181.9 | 申请日: | 2022-06-22 |
公开(公告)号: | CN116936637A | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 陈伟梵;蔡国基 | 申请(专利权)人: | 力拓半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/16;H01L21/336 |
代理公司: | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 黎艳 |
地址: | 中国台湾桃园市桃园区艺文一*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明提供一种碳化硅半导体功率晶体管和制造其的方法。本发明的碳化硅半导体功率晶体管包括由碳化硅(SiC)制成的衬底、设置在衬底上的漂移层,形成在漂移层上的栅极层、设置在漂移层中的多个第一井拾取区及多个第二井拾取区、多个源极电极以及多个接触件。多个V形槽形成在漂移层中。在各V形槽的底部处的栅极层中形成第一开口,在V形槽之间的漂移层的顶部处的栅极层中形成第二开口。多个接触件设置在第二开口内,以直接接触第二井拾取区。本发明提供优良的开关能量损失效能和开关可靠性。 | ||
搜索关键词: | 碳化硅 半导体 功率 晶体管 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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