[发明专利]碳化硅半导体功率晶体管及制造其的方法在审

专利信息
申请号: 202210714181.9 申请日: 2022-06-22
公开(公告)号: CN116936637A 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 陈伟梵;蔡国基 申请(专利权)人: 力拓半导体股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/16;H01L21/336
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 黎艳
地址: 中国台湾桃园市桃园区艺文一*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明提供一种碳化硅半导体功率晶体管和制造其的方法。本发明的碳化硅半导体功率晶体管包括由碳化硅(SiC)制成的衬底、设置在衬底上的漂移层,形成在漂移层上的栅极层、设置在漂移层中的多个第一井拾取区及多个第二井拾取区、多个源极电极以及多个接触件。多个V形槽形成在漂移层中。在各V形槽的底部处的栅极层中形成第一开口,在V形槽之间的漂移层的顶部处的栅极层中形成第二开口。多个接触件设置在第二开口内,以直接接触第二井拾取区。本发明提供优良的开关能量损失效能和开关可靠性。
搜索关键词: 碳化硅 半导体 功率 晶体管 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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