[发明专利]测试方法、测试装置及计算机可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202210715220.7 申请日: 2022-06-22
公开(公告)号: CN115267469A 公开(公告)日: 2022-11-01
发明(设计)人: 顾王佳;周潇;陈健;彭晶晶 申请(专利权)人: 通富微电子股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 柳芳
地址: 226000 *** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 本申请公开了一种测试方法、装置及计算机可读存储介质,该测试方法包括:在测试机对目标器件进行测试后,分别获取测试机的至少一个目标测试项中各个目标测试项在各自对应的第一采样时间点的第一采样值;响应于存在目标测试项对应的第一采样值不满足目标测试项对应的第一预设要求,确定目标器件未通过测试;其中,在测试机处于空测状态下,各个目标测试项在各自对应的第一采样时间点处的采样值不满足对应的第一预设要求,在测试机处于非空测状态下,各个目标测试项在各自对应的第一采样时间点处的采样值满足对应的第一预设要求。本申请所提供的测试方法能够避免因为测试机本身不良而导致不良产品逃逸的现象。
搜索关键词: 测试 方法 装置 计算机 可读 存储 介质
【主权项】:
暂无信息
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