[发明专利]一种液晶面板生产缺陷分布图监控分析系统在审
申请号: | 202210717909.3 | 申请日: | 2022-06-21 |
公开(公告)号: | CN115205228A | 公开(公告)日: | 2022-10-18 |
发明(设计)人: | 温志鹏;巫文豪;王文瑞;孙志岩 | 申请(专利权)人: | 上海哥瑞利软件股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T11/20;G06V10/75;G06V10/764;G06V10/82;G06N3/04;G06N3/08 |
代理公司: | 上海政济知识产权代理事务所(普通合伙) 31479 | 代理人: | 罗子芳 |
地址: | 200000 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种液晶面板生产缺陷分布图监控分析系统,其特征在于,包括:基础设备单元、生产缺陷数据采集单元、缺陷分布图生成单元、图像识别单元、生产暂停管理单元;其中,基础设备单元,用于为监控分析系统提供硬件支持;生产缺陷数据采集单元,采集液晶面板产品在生产过程中的缺陷类型及缺陷点位信息;缺陷分布图生成单元,根据缺陷类型及缺陷点位信息生成对应的缺陷分布图;图像识别单元,用于对缺陷分布图进行识别,判断缺陷分布图中缺陷情况是否影响生产;生产暂停管理单元,用于在图像识别单元判断为影响生产时,指令控制生产设备暂停生产以及锁定异常产品。 | ||
搜索关键词: | 一种 液晶面板 生产 缺陷 分布图 监控 分析 系统 | ||
【主权项】:
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