[发明专利]一种X射线无损检测设备、像素尺寸标定方法及存储介质在审
| 申请号： | 202210741347.6 | 申请日： | 2022-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN115165932A | 公开（公告）日： | 2022-10-11 |
| 发明（设计）人： | 任亮;陈泽祥;汤秀清 | 申请（专利权）人： | 广州市昊志影像科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/046;G01B15/00 |
| 代理公司： | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 | 代理人： | 孙柳 |
| 地址： | 510000 广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种X射线无损检测设备，通过设置多个目标位置分别控制探测器和射线源移动到对应位置时获取多幅X射线成像图像以计算得出对应标准件内相邻球形物体的长度距离，然后结合每个目标位置的射线源高度、探测器高度，标准件中相邻球形物体的实际长度距离以及零点位置时探测器的成像平面到标准件的距离、射线源的出射焦点到标准件的距离构建得出对应拟合方程，以根据探测器的成像平面到标准件的距离及射线源的出射焦点到标准件的距离得出X射线成像像素尺寸。本发明解决现有技术中一旦探测器与射线源位置发生变化时均需对X射线成像像素尺寸进行重新标定导致标定耗时长等问题。本发明还公开一种X射线成像像素尺寸标定方法及存储介质。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 无损 检测 设备 像素 尺寸 标定 方法 存储 介质 | ||
【主权项】：
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