[发明专利]基于4f相位相干成像系统的中子束流脉宽测量装置和测量方法在审
| 申请号： | 202210757162.4 | 申请日： | 2022-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN115015996A | 公开（公告）日： | 2022-09-06 |
| 发明（设计）人： | 杨俊义;宋瑛林;杨勇 | 申请（专利权）人： | 苏州微纳激光光子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01T3/00 | 分类号： | G01T3/00 |
| 代理公司： | 苏州满天星知识产权代理事务所(普通合伙) 32573 | 代理人： | 赵静 |
| 地址： | 215500 江苏省苏州市常*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于4f相位相干成像系统的中子束流脉宽的测量装置和测量方法，所述测量装置包括同步控制系统，飞秒激光器，激光束调制系统，4f相位相干成像系统，标准电光晶体，数据记录装置，以及中子源，所述同步控制系统控制飞秒激光器发射激光并控制中子源发射中子束流脉冲，所述中子束流脉冲射向标准电光晶体，所述测量装置还包括相位阵列阶梯反射镜器件。本测量装置可实现不同时域下的中子束流脉冲宽度的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 相位 相干 成像 系统 中子 束流脉宽 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
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