[发明专利]一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210768091.8 | 申请日： | 2022-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN115168130A | 公开（公告）日： | 2022-10-11 |
| 发明（设计）人： | 陈伟;谢宝磊;刘志丹;何泽宇 | 申请（专利权）人： | 上海燧原科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26;G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 初春 |
| 地址： | 201306 上海市浦东新区中国（上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：当待测芯片在目标阶段进行软件程序运行时，获取待测芯片对应的标准硬件描述树；将标准硬件描述树读入软件程序，利用软件程序解析标准硬件描述树，生成运行时硬件描述树；基于运行时硬件描述树中的基础寄存器地址对待测芯片进行目标阶段的测试。通过本发明的技术方案，能够在芯片测试过程使芯片测试软件对不同版本的芯片进行兼容，提高了芯片测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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