[发明专利]一种光相控阵宽角扫描测试系统和方法在审

专利信息
申请号: 202210770642.4 申请日: 2022-06-30
公开(公告)号: CN115275608A 公开(公告)日: 2022-11-01
发明(设计)人: 贺敬文;董涛;徐月;苏昱玮 申请(专利权)人: 航天恒星科技有限公司
主分类号: H01Q3/26 分类号: H01Q3/26
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 范晓毅
地址: 100086 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种光相控阵宽角扫描测试系统,扫描测试阶段波束指向反馈与控制模块向光相控阵发射模块发送辐射波束指向指令;向探测位置调节模块发送位置调节指令;光相控阵发射模块根据辐射波束指向指令发射波束;探测位置调节模块带动探测模块移动至其他各采集位置;探测模块获取远场辐射方向图并发送至波束指向反馈与控制模块;波束指向反馈与控制模块判断远场辐射方向图与目标波束方向图的中主波束指向角度的差值是否大于预定值。本发明还公开了一种光相控阵宽角扫描测试方法。本发明能够实现光相控阵的波束精确指向与远场方向图的360°宽角扫描测试,提升了波束指向控制能力与远场辐射方向图测试范围。
搜索关键词: 一种 相控阵 扫描 测试 系统 方法
【主权项】:
暂无信息
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