[发明专利]一种去除X射线图像滤线栅纹的方法在审

专利信息
申请号: 202210780077.X 申请日: 2022-07-04
公开(公告)号: CN114972120A 公开(公告)日: 2022-08-30
发明(设计)人: 蒋雪辰;王宇;翟永立 申请(专利权)人: 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 余明伟
地址: 201201 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种去除X射线图像滤线栅纹的方法,首先对比栅纹方向数据与无栅纹方向数据的频谱图差异,利用两方向数据在频域上相减分离出栅纹,频域逆变换重建获得栅纹图像,最后利用带栅图像减去栅纹图像,获得无栅图像。本发明提供的去除X射线图像滤线栅纹的方法,能够在保证探测器正常上图的情况下,利用图像处理的方法,有效去除经过滤线栅后X射线图像中的栅纹,获得较为理想的去栅效果;另外,去栅过程中无需查找栅纹在频域中波峰的精确位置,更无需设计对应复杂的滤波器,大大节省了成本,提高了工作效率。
搜索关键词: 一种 去除 射线 图像 滤线栅纹 方法
【主权项】:
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