[发明专利]工艺检查方法、装置、设备和存储介质

摘要

本申请公开了一种工艺检查方法、装置、设备和存储介质，属于计算机技术领域。所述方法包括：获取多个影响因子中每个影响因子的权重；在物品制造过程中获取多个影响因子中每个影响因子对应的目标数据；根据目标数据预测物品成品率；在预测出的物品成品率异常的情况下，按照多个影响因子中每个影响因子的权重由高到低的顺序，检查各个影响因子所属的工艺流程，直至检查出存在问题的工艺流程为止。本申请优先检查权重较高的影响因子所属的工艺流程，即优先检查最有可能出现问题的工艺流程，这样是按照出现问题的概率由高到低的顺序来检查各个工艺流程，可以较快的速度检查出存在问题的工艺流程，从而节省人力，节约工艺检查时间，提高工艺检查效率。