[发明专利]一种由阵列磁盘进行数据校验的RAID5校验方法在审

专利信息
申请号: 202210791790.4 申请日: 2022-07-07
公开(公告)号: CN115237342A 公开(公告)日: 2022-10-25
发明(设计)人: 樊凌雁;刘宇翔 申请(专利权)人: 杭州电子科技大学
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06;G06F11/08
代理公司: 浙江永鼎律师事务所 33233 代理人: 陈保成
地址: 310018 浙*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种由阵列磁盘进行数据校验的RAID5校验方法,该方法包括带异或计算硬件模块以及支持XDWRITE、XDREAD和XPWRITE命令的固态硬盘组成阵列,其中,XDWRITE命令为将用户数据写入数据盘并触发新写入的数据与旧数据的异或操作,异或结果存在数据盘内的buffer中;XDREAD命令为将数据盘buffer内的校验数据读出;XPWRITE命令为将读出的校验数据写入阵列中的校验盘并触发新写入的校验数据与旧的校验数据的异或操作,最后将异或操作计算出的数据写入存储介质,XPWRITE命令用于阵列中校验盘的写校验数据,而XDWRITE命令用于数据盘的写用户数据。本发明减少RAID5在写数据过程中读写成员磁盘的次数并将校验数据的计算下放到成员磁盘中从而提高RAID5的写性能。
搜索关键词: 一种 阵列 磁盘 进行 数据 校验 raid5 方法
【主权项】:
暂无信息
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