[发明专利]一种基于Faster RCNN改进的芯片缺陷识别方法在审
| 申请号： | 202210796619.2 | 申请日： | 2022-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN115049635A | 公开（公告）日： | 2022-09-13 |
| 发明（设计）人： | 李敏;张丽平;韩德隆;周鸣乐;刘一鸣 | 申请（专利权）人： | 山东省计算中心（国家超级计算济南中心）;齐鲁工业大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/25;G06V10/774;G06V10/82;G06N3/08;G06N3/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 250014 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于Faster RCNN改进的芯片缺陷检测方法，涉及工业目标检测领域，该方法包括：对数据集进行预处理，采集训练样本集，把样本集导入Faster RCNN，通过特征提取网络对图像样本集进行特征提取，将提取到的特征输入到RPN模块进行训练生成建议框，通过样本集训练和微调得到Faster RCNN模型，使用Faster RCNN模块保存的训练参数对待检测芯片图像进行芯片缺陷检测；该样本集是使用公共合成PCB（印刷电路板）数据集训练所得出的模型，改进了特征提取网络，并使用权重自适应器进行加强学习，在一定程度上提高了检测速度和准确率，使得该发明具有更高的灵活性和识别精度，在电子信息产业中具有更好的实用价值和应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 faster rcnn 改进 芯片 缺陷 识别 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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