[发明专利]光学系统及荧光检测系统在审
| 申请号： | 202210799096.7 | 申请日： | 2022-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN115963091A | 公开（公告）日： | 2023-04-14 |
| 发明（设计）人： | 林伯聪;黄冠勋;李岳龙;黄建文 | 申请（专利权）人： | 由田新技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 蔡维华;刘芳 |
| 地址： | 中国台湾新北市中*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于荧光检测的光学系统。光学系统包括第一光源以及第一滤光器。第一滤光器对应地设置于第一光源的光路上，且过滤第一光源的光束，以提供激发光束照射至样品，使样品产生荧光。第一滤光器的表面与第一光源的光束的出射方向呈非正交关系。一种荧光检测系统亦被提出。 | ||
| 搜索关键词： | 光学系统 荧光 检测 系统 | ||
【主权项】：
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