[发明专利]一种指令校验方法、装置、设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202210802484.6 申请日: 2022-07-07
公开(公告)号: CN115081429A 公开(公告)日: 2022-09-20
发明(设计)人: 高恩宇;金涛;韩智锋;王付刚;万婧;刘晓坤 申请(专利权)人: 北京微纳星空科技有限公司;北京国宇星空科技有限公司;安徽微纳星空科技有限公司;海南微纳星空科技有限公司;陕西国宇星空科技有限公司
主分类号: G06F40/226 分类号: G06F40/226
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 蔡舒野
地址: 100094 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种指令校验方法、装置、设备和存储介质。该方法包括:获取待校验指令,其中,所述待校验指令包括字节数组和初始校验字节;根据所述字节数组确定目标校验字节,其中,所述目标校验字节包括:第一校验字节和第二校验字节;若根据所述第一校验字节、所述第二校验字节以及所述初始校验字节确定所述待校验指令为错误指令,则根据所述第一校验字节和所述第二校验字节对所述待校验指令进行调整,得到目标指令。本发明实施例通过获取待校验指令,根据字节数组确定目标校验字节,根据目标校验字节对待校验指令进行调整得到目标指令,可实现快速、准确、高效地对待校验指令进行校验的过程,得到正确的目标指令。
搜索关键词: 一种 指令 校验 方法 装置 设备 存储 介质
【主权项】:
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