[发明专利]激光跟踪仪姿态测量校准装置及方法在审
| 申请号： | 202210804178.6 | 申请日： | 2022-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN115371545A | 公开（公告）日： | 2022-11-22 |
| 发明（设计）人： | 张刘港;高豆豆;董登峰;崔成君;周培松;蒋海涛;敖俊姣;甘晓旺;王国名;王博;朱志忠;程智;李洋;高超 | 申请（专利权）人： | 海宁集成电路与先进制造研究院 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01C15/00;G01C25/00 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人： | 王刚 |
| 地址： | 314499 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供一种激光跟踪仪姿态测量校准装置及方法。该装置包括姿态测量靶标和二维精密转台；所述二维精密转台包括转台主体、俯仰轴和横滚轴，所述俯仰轴转动连接于所述转台主体的上方，所述横滚轴的一端转动连接于所述俯仰轴，所述姿态测量靶标连接于所述横滚轴的另一端；所述横滚轴和所述俯仰轴沿轴向相互垂直。该方法通过二维精密转台的俯仰轴和横滚轴带动姿态测量靶标转动，将姿态测量靶标的俯仰和水平方向进行置换，实现了激光跟踪仪水平方向的姿态角测试，从而实现了激光跟踪仪的三维姿态测量校准。本申请有效地降低了精密转台的设计要求，降低了制造成本，减少了转台的误差传递链，并提高了二维精密转台的测量精度和稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 跟踪 姿态 测量 校准 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于海宁集成电路与先进制造研究院，未经海宁集成电路与先进制造研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210804178.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
