[发明专利]基于磁场调制的脉冲磁纳米粒子成像系统及成像方法在审

专利信息
申请号: 202210806255.1 申请日: 2022-07-08
公开(公告)号: CN115153488A 公开(公告)日: 2022-10-11
发明(设计)人: 田捷;李怡濛;安羽;钟景;何杰 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: A61B5/0515 分类号: A61B5/0515
代理公司: 北京市恒有知识产权代理事务所(普通合伙) 11576 代理人: 郭文浩;尹文会
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于磁纳米粒子成像领域,具体涉及了一种基于磁场调制的脉冲磁纳米粒子成像系统及方法,旨在解决现有技术中脉冲MPI无法实现高灵敏度、大视野成像的问题。本发明包括:驱动电路调制设定电流波形,结合磁场调制线圈组的电流采样反馈,驱动磁场调制线圈组产生设定时变磁场;发射线圈在信号处理电路发出的脉冲信号驱动下产生脉冲激励磁场,接收线圈和信号处理电路接收待成像物二维成像扫描过程的实时电压感应信号;驱动电机驱动带有线圈组的固定支架在平移轨道上沿设定路径移动,获取待成像物三维成像扫描过程的实时电压感应信号;图像重建模块进行二维/三维MPI图像重建。本发明实现脉冲MPI的高灵敏度、高分辨率成像,且成像视野大。
搜索关键词: 基于 磁场 调制 脉冲 纳米 粒子 成像 系统 方法
【主权项】:
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