[发明专利]缺陷识别方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质有效
| 申请号： | 202210812741.4 | 申请日： | 2022-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN114898357B | 公开（公告）日： | 2022-10-18 |
| 发明（设计）人： | 王远;刘枢;吕江波;沈小勇 | 申请（专利权）人： | 深圳思谋信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G06V20/64 | 分类号： | G06V20/64;G06V10/70 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 赖远龙 |
| 地址： | 518051 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种缺陷识别方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，涉及精密仪器检测技术领域。方法包括：获取待识别工业仪器对应的点云图像，以及点云图像中各像素点的特征信息；其中，特征信息包括初始位置信息、深度信息、反光强度以及预先设置的点云特征；根据各像素点的特征信息确定与点云图像对应的特征图像；对特征图像进行数据强化处理，得到处理后的特征图像；将处理后的特征图像输入训练好的缺陷识别模型进行处理，输出处理后的特征图像中包含的缺陷区域图像，以及缺陷区域图像对应的缺陷类别。采用本申请能够实现提高针对工业仪器的缺陷检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 识别 方法 装置 电子设备 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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