[发明专利]基于相位偏置量子弱测量的绝对弱磁场测量设备及方法在审

专利信息
申请号: 202210814619.0 申请日: 2022-07-12
公开(公告)号: CN115166608A 公开(公告)日: 2022-10-11
发明(设计)人: 黄鲸珲;胡祥云;王广君;段雪影 申请(专利权)人: 中国地质大学(武汉)
主分类号: G01R33/032 分类号: G01R33/032
代理公司: 武汉知产时代知识产权代理有限公司 42238 代理人: 王佩
地址: 430000 湖*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种基于相位偏置量子弱测量的绝对弱磁场测量设备及方法,该设备包括主光路组件、弱耦合光路组件和处理组件,其中弱耦合光路组件用以件待测的磁场耦合到光束中;该设备的测量方法包括前期的调试和后期的测量。本发明的设备及方法可以实现对磁场大小的高灵敏度和高精度的测量,同时在正式测量前对设备进行有效的矫零调试确保结果的准确性。
搜索关键词: 基于 相位 偏置 量子 测量 绝对 磁场 设备 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国地质大学(武汉),未经中国地质大学(武汉)许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210814619.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top