[发明专利]相位调控阵列液晶光谱仪及其测量方法在审
| 申请号： | 202210816101.0 | 申请日： | 2022-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN115355991A | 公开（公告）日： | 2022-11-18 |
| 发明（设计）人： | 吕金光;梁静秋;郑凯丰;赵莹泽;赵百轩;陶金;王惟彪;秦余欣 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45;G01J3/02 |
| 代理公司： | 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 | 代理人： | 郭婷 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明提供一种相位调控阵列液晶光谱仪及其测量方法，其中的光谱仪包括：光源系统、相位调制系统和探测器系统；相位调制系统包括：分束器、行向液晶相位调控阵列和列向液晶相位调控阵列；光源系统用于发出一束线偏振光束入射至分束器被分为反射光束和透射光束，反射光束和透射光束分别入射至行向液晶相位调控阵列和列向液晶相位调控阵列中再次发生反射后产生预设光程差，反射光束和透射光束返回至分束器中发生叠加干涉后产生干涉光束；干涉光束入射至探测器系统后得到干涉图像序列，获取线偏振光束的光谱信息。本发明解决了动镜扫描型傅里叶变换光谱仪机械扫描带来的可靠性低、体积重量大和实时性差问题。 | ||
| 搜索关键词： | 相位 调控 阵列 液晶 光谱仪 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
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