[发明专利]一种双分支面料缺陷检测方法、存储介质及电子设备在审
| 申请号： | 202210816951.0 | 申请日： | 2022-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN115358967A | 公开（公告）日： | 2022-11-18 |
| 发明（设计）人： | 陈钟浩;管瑞峰;胡钊滨;姚海杰;黄婷 | 申请（专利权）人： | 上海致景信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T3/40;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 广州立诚聚凡专利代理事务所(普通合伙) 44905 | 代理人： | 郑义千 |
| 地址： | 200000 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种双分支面料缺陷检测方法，本发明针对网络架构采用双网络的架构方法，可以有效地提高检测结果的精度；利用深度学习神经网络基于图像内容比对的方式进行坯布缺陷检测，可以大幅提高了不明显缺陷检的特征表示，这种特征表示的提取加入了良品的数据，在深度学习的网络有更加丰富的数据信息，且使用图像金字塔对图像的尺寸进行变换，能够提取到尺寸更小的缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 分支 面料 缺陷 检测 方法 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
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