[发明专利]用于存储元件以提高可靠性的早期错误检测与自动校正技术在审
申请号: | 202210835325.6 | 申请日: | 2022-07-15 |
公开(公告)号: | CN115640664A | 公开(公告)日: | 2023-01-24 |
发明(设计)人: | S·P·卡杜 | 申请(专利权)人: | 安华高科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 林斯凯 |
地址: | 新加坡*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本申请案的实施例涉及用于存储元件以提高可靠性的早期错误检测与自动校正技术。具有错误检测与校正的半导体芯片包含多个管线且每一管线耦合到所述半导体芯片上的一或多个端口。所述半导体芯片进一步包含状态机,所述状态机耦合到所述管线以产生由与多个存储元件相关联的读取型事件及/或扫描型事件组成的若干个事件。所述状态机是以硬件实施且可跨越所述多个存储元件集中地检测并校正错误存储器条目。 | ||
搜索关键词: | 用于 存储 元件 提高 可靠性 早期 错误 检测 自动 校正 技术 | ||
【主权项】:
暂无信息
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