[发明专利]一种IGBT动态参数测试系统检测方法及其检测装置在审
| 申请号： | 202210857282.1 | 申请日： | 2022-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN115128425A | 公开（公告）日： | 2022-09-30 |
| 发明（设计）人： | 许秀群;裴开祥;钱军军;周发 | 申请（专利权）人： | 中国振华集团永光电子有限公司（国营第八七三厂） |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 贵阳中工知识产权代理事务所 52106 | 代理人： | 杨成刚 |
| 地址： | 550018 贵州省*** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 一种IGBT动态参数测试系统检测方法及其检测装置，属于半导体元器件测试系统检测技术领域。针对IGBT动态参数测试系统主要可施加技术性能指标VGE、VC、IC，采用相应的外部测试组件，通过适配器连接到测试系统的IGBT夹具装置上，对测试系统进行同步检测，读取相应标准器上的检测数据，进行测试数据的比对。针对时间参数检测，断开测试系统内置示波器，用标准正弦波信号发生器与内置示波器连接，分别设置内置示波器的时间参数量程及正弦波信号发生器的输出信号周期，用测试系统分别测试正弦波信号发生器及内置示波器，进行比对检测。解决现有IGBT模块动态参数测试系统不能校准、量值不能溯源的问题。广泛应用于IGBT动态参数测试系统的设备检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 igbt 动态 参数 测试 系统 检测 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
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