[发明专利]单站激光跟踪测量设备和方法有效
| 申请号： | 202210866102.6 | 申请日： | 2022-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN115079185B | 公开（公告）日： | 2023-03-17 |
| 发明（设计）人： | 王婷 | 申请（专利权）人： | 北京天科微测科技有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/06 | 分类号： | G01S17/06;G01S7/481;G01S17/08;G01S17/66;G01C3/00;G01C3/02;G01C15/00;G05D3/12 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 100085 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及测量技术领域，尤其涉及一种单站激光跟踪测量设备和方法。设备包括：光机结构；安装设于光机结构上的转台部；安装设于转台部上的第一反射元件；设于光机结构内的粗测距模块，用于测量目标物的粗距离值；设于转台部上的粗瞄准模块，用于基于目标物反射的第一光源的第一脱靶量驱动转台部进行第一旋转；设于光机结构内的精跟踪模块，用于基于第一反射元件反射的目标物的第二光源的第二脱靶量和粗距离值驱动转台部进行第二旋转，以及设于光机结构内的精测距模块，用于在第二旋转使得粗测距模块发射的光源经第一反射元件瞄准至目标物的目标区域时，测量目标物的精距离值。本发明用以提高对运动目标进行目标跟踪测量的测量效率和测距精度。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 跟踪 测量 设备 方法 | ||
【主权项】：
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