[发明专利]一种同时测定岩体结构面粗糙度和倾斜角的装置及方法在审

专利信息
申请号: 202210866394.3 申请日: 2022-07-22
公开(公告)号: CN115218829A 公开(公告)日: 2022-10-21
发明(设计)人: 吴顺川;谢志国;任子健;王廷超;程海勇;耿晓杰;游洋;李淑迎;王焘;崔超;孙俊龙 申请(专利权)人: 云南省滇中引水工程有限公司;昆明理工大学;云南省滇中引水工程建设管理局
主分类号: G01B11/30 分类号: G01B11/30;G01B11/26
代理公司: 天津煜博知识产权代理事务所(普通合伙) 12246 代理人: 朱维
地址: 650000 云南省*** 国省代码: 云南;53
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明提供了一种同时测定岩体结构面粗糙度和倾斜角的装置及方法,涉及岩体质量检测相关技术领域,通过将测定装置放置于待测岩体结构面上,利用激光测距仪和重力感应器,获得激光测距仪测量数据;利用外接移动端的内置处理程序对获得的激光测距仪测量数据进行处理,以平滑曲线的形式展示在二维平面坐标系中,得到实测平滑曲线;将实测平滑曲线与十条巴顿标准曲线进行比对,获得待测岩体结构面的粗糙度;并利用重力感应器对待测岩体结构面的受力进行分析,获得待测岩体结构面的倾斜角,解决了现有技术中测量的岩体结构面粗糙度Jr的准确度较低,同时不能在检测岩体结构面粗糙度Jr的同时,实现岩体结构面倾斜角测定的技术问题。
搜索关键词: 一种 同时 测定 结构 粗糙 倾斜角 装置 方法
【主权项】:
暂无信息
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