[发明专利]锁相环测试方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210886305.1 | 申请日： | 2022-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN115269298A | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 王飞龙 | 申请（专利权）人： | 上海亿家芯集成电路设计有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26;G06F11/22 |
| 代理公司： | 杭州航璞专利代理有限公司 33498 | 代理人： | 周方建 |
| 地址： | 201306 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请涉及芯片验证，本申请提供一种锁相环测试方法、装置、设备及存储介质，所述方法根据锁相环pll的输出频率范围设置输出频率，获得测试样例；通过uvm测试平台，将待测dut模块与所述测试样例之间进行数据连接，所述uvm测试平台与所述待测dut模块进行处理，获得相应的处理结果，将所述处理结果进行对比，获得对比结果。通过上述方式，本发明提出一种基于通用验证方法学uvm平台的锁相环pll测试方法，所述方法通过uvm平台进行实施，调用测试样例组件、adapter组件、driver组件、在测试样例中可以按所需频率进行设置，而且通过功能覆盖率的收集可以使得pll进行充分有效的验证。解决了当前芯片验证效率低下的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 锁相环 测试 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海亿家芯集成电路设计有限公司，未经上海亿家芯集成电路设计有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210886305.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
