[发明专利]一种高分辨率散射光谱颗粒粒径测量方法和系统在审
| 申请号： | 202210897444.4 | 申请日： | 2022-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN115112533A | 公开（公告）日： | 2022-09-27 |
| 发明（设计）人： | 黄梅珍;王志辉;刘天元;于新娜 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N21/25 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 徐红银;禹雪平 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种高分辨率散射光谱颗粒粒径测量方法和系统，该方法包括：基于Mie散射理论，引入角散射效率因子对待测颗粒的散射光谱进行模拟，根据散射光谱中谱峰位移与颗粒粒径和散射角的关系，选取所要观测的散射谱峰和散射角度；根据散射光谱中谱峰位移与颗粒粒径和散射角的关系，建立谱峰峰值波长与颗粒粒径的关系作为定标模型；测量待测颗粒的散射光谱，并利用所述定标模型确定待测颗粒粒径。本发明只需对测量的散射光谱进行谱峰定位即可实现粒径测量，数据处理简便，且具有极高的测量分辨率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高分辨率 散射 光谱 颗粒 粒径 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
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