[发明专利]Lora模组的测试方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202210905780.9 | 申请日： | 2022-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN114978364B | 公开（公告）日： | 2022-11-18 |
| 发明（设计）人： | 刘俊;赵洪鹏;陈晓辉 | 申请（专利权）人： | 武汉慧联无限科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/10 | 分类号： | H04B17/10;H04B17/20;H04B17/391 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 胡亮;吴素花 |
| 地址： | 430223 湖北省武汉市东湖技术开发区软件*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例公开了一种Lora模组的测试方法、装置、电子设备及存储介质。所述Lora模组的测试方法包括：将待测的目标Lora模组和测试工具之间设置衰减器；根据发射功率以及所述衰减器的衰减值，确定所述目标Lora模组的发射功率和/或接收功率。如此，通过设置衰减器，可以使得目标Lora模组的发射功率处于测试工具的信号接收范围内，便于测试工具接收，从而确定目标Lora模组的发射功率；通过设置衰减器，还可以使得测试工具的发射功率处于目标Lora模组的信号接收范围内，便于确定目标Lora模组的接收功率。从而实现用成本较低的测试工具，实现对Lora模组的测试。 | ||
| 搜索关键词： | lora 模组 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉慧联无限科技有限公司，未经武汉慧联无限科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210905780.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
