[发明专利]一种荧光X射线快速测定氧化铁粉杂质元素的方法在审
申请号: | 202210922661.4 | 申请日: | 2022-08-02 |
公开(公告)号: | CN115343322A | 公开(公告)日: | 2022-11-15 |
发明(设计)人: | 王玉慧;李兴华;杜秀珍;郭洪涛;艾兵权;赵晶;陈波;刘剑峰;周文 | 申请(专利权)人: | 唐山钢铁集团有限责任公司;河钢乐亭钢铁有限公司;河钢股份有限公司唐山分公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223;G01N23/2202 |
代理公司: | 石家庄冀科专利商标事务所有限公司 13108 | 代理人: | 赵幸 |
地址: | 063000 *** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本发明涉及一种荧光X射线快速测定氧化铁粉杂质元素的方法,包括以下步骤:(1)以硼酸和微晶纤维素的混合物作为粘结剂与氧化铁粉按一定比例混合均匀,然后进行压片;(2)采用荧光X射线光谱法建立不同元素的校准曲线;(3)根据步骤(2)建立的标准曲线,利用荧光X射线光谱法测定氧化铁粉中各杂质元素的含量。本发明方法可实现对氧化铁粉所有杂质元素的快速、同时检测,操作简单、分析时间短、数据稳定性好、准确度高、检测成本低,可以满足氧化铁粉成分工业化批量检测需求。 | ||
搜索关键词: | 一种 荧光 射线 快速 测定 氧化 铁粉 杂质 元素 方法 | ||
【主权项】:
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