[发明专利]用于偏折测量的超景深镜头及其偏折测量系统与测量方法在审
| 申请号： | 202210960596.4 | 申请日： | 2022-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN115371585A | 公开（公告）日： | 2022-11-22 |
| 发明（设计）人： | 吴珍;魏朝阳;牛振岐;王生水;李晓琳 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01M11/02;G02B13/00 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种用于偏折测量的超景深镜头及其偏折测量系统与测量方法，该检测系统由液晶显示屏、待测元件、超景深镜头及CCD相机组成。液晶显示屏显示编码条纹，超景深镜头及CCD相机接收由待测元件反射的带有其面形信息的变形条纹，获得面形梯度信息，进而得到待测元件三维形貌结构。相比于传统CCD相机镜头，本发明中的超景深镜头可扩大成像景深，进而扩大检测范围。同时，超景深镜头相比于传统镜头，通光孔径大，曝光时间短，可提高成像效率。本发明解决了目前偏折测量技术中，尤其是针对大口径复杂光学元件的检测，存在的成像景深不足，检测范围小，效率低的难题，对偏折术测量的适用范围扩大和效率提升有重要意义。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 景深 镜头 及其 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
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