[发明专利]调焦光源发射光学系统光轴指向检测装置及方法在审

专利信息
申请号: 202210976560.5 申请日: 2022-08-15
公开(公告)号: CN115541195A 公开(公告)日: 2022-12-30
发明(设计)人: 朱浩;刘柯;郭天茂;王晓光;鲍晨兴;滕晓;王锴磊 申请(专利权)人: 北京航天计量测试技术研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京艾纬铂知识产权代理有限公司 16101 代理人: 梁倩
地址: 100076 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提出了一种调焦光源发射光学系统光轴指向检测装置及方法,能够实现调焦光源发射光学系统在调焦过程中的光轴指向的高精度测量。本发明利用长距离直线运动平台和光斑位置探测装置,记录不同空间位置处调焦光源发射系统出射光的汇聚位置,计算调焦过程中系统光轴的指向变化,通过直接接收调焦光学系统出射的光斑,测量长距离范围内光斑的位置变化,解决了调焦光源发射光学系统在调焦过程中的光轴指向的高精度测量问题。
搜索关键词: 调焦 光源 发射 光学系统 光轴 指向 检测 装置 方法
【主权项】:
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