[发明专利]测试方法、测试系统和计算机可读存储介质有效
| 申请号： | 202210978784.X | 申请日： | 2022-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN115048256B | 公开（公告）日： | 2022-11-29 |
| 发明（设计）人： | 周斌;梁昭庆;杜君;白雪松;付利莉;曲胜波;刘冬梅;易玲;马兵 | 申请（专利权）人： | 北京智芯半导体科技有限公司;北京智芯微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 邵泳城 |
| 地址： | 102200 北京市昌平*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种测试方法、测试系统和计算机可读存储介质。测试方法包括：创建预设对象以占用目标空间，目标空间为Java卡的存储空间的至少部分；获取第一空间参数，第一空间参数为执行测试流程前目标空间中的可用空间量；在完成对目标空间的占用后，执行测试流程以回收预设对象；获取第二空间参数，第二空间参数为完成测试流程后目标空间中的可用空间量；根据第一空间参数和第二空间参数确定测试结果。上述测试方法，通过在Java卡内进行空间占用的方式来创造测试环境，并根据执行测试流程前后对应目标空间的空间参数的变化来得到测试结果，从而以测试结果来确定Java卡的垃圾回收能力，进而可评估Java卡的技术竞争力。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 系统 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京智芯半导体科技有限公司;北京智芯微电子科技有限公司，未经北京智芯半导体科技有限公司;北京智芯微电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210978784.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
