[发明专利]一种MEMS芯片低应力多孔阵列封装结构及封装方法在审

专利信息
申请号: 202210992757.8 申请日: 2022-08-18
公开(公告)号: CN115285925A 公开(公告)日: 2022-11-04
发明(设计)人: 商兴莲;凤瑞;宋金龙;解亚飞;周六辉 申请(专利权)人: 华东光电集成器件研究所
主分类号: B81B7/00 分类号: B81B7/00;B81B7/02;B81C1/00
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 张倩倩
地址: 233030 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种MEMS芯片低应力多孔阵列封装结构及封装方法,所述方法包括多孔阵列结构的硅基板的加工;所述基于多孔阵列结构的硅基板的加工包括以下步骤:准备单晶硅晶圆,底部刻隔离腔,顶部刻蚀多孔阵列结构,刻蚀划片槽,沿划片槽划片形成单个硅基板,本发明通过在硅基板底部刻蚀隔离腔,使得硅基板下表面与多孔阵列结构底面产生了台阶,通过环形粘胶固定在封装管壳底面上,既实现了机械固定又降低了硅基板的粘接应力。台阶可避免硅基板底面施胶过多溢出导致与多孔阵列结构底面粘连,且通过设置多孔阵列结构,使得产品在给MEMS芯片与硅基板提供足够强度的同时,又能释放封装管壳与硅基板之间的应力。
搜索关键词: 一种 mems 芯片 应力 多孔 阵列 封装 结构 方法
【主权项】:
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