[发明专利]一种搜索天体测量型微引力透镜事件最大观测信号及星对最接近时刻的方法有效

专利信息
申请号: 202211014047.4 申请日: 2022-08-23
公开(公告)号: CN115356777B 公开(公告)日: 2023-05-30
发明(设计)人: 苏婕;张益恭;王建成;程向明;杨磊;陈林飞 申请(专利权)人: 中国科学院云南天文台
主分类号: G01V7/00 分类号: G01V7/00;G01V7/04;G06F17/15
代理公司: 北京智行阳光知识产权代理事务所(普通合伙) 11738 代理人: 林浩书
地址: 650000 云*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明公开了一种搜索天体测量型微引力透镜事件最大观测信号及星对最接近时刻的方法,包括以下步骤:获取透镜星和背景源星在GaiaDR2中的天体测量数据;计算爱因斯坦环半径,透镜星、背景源星的角距离,星对相对角距离;计算每天透镜星与背景源星的位置点,并解算其相对角距离;计算最大观测信号及星对最接近时刻。本发明可以简化计算流程、减少计算量,提高天体测量型微引力透镜事件预测效率。
搜索关键词: 一种 搜索 天体 测量 引力 透镜 事件 最大 观测 信号 最接近 时刻 方法
【主权项】:
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