[发明专利]一种硅基雪崩光电二极管的抗辐照加固方法有效

专利信息
申请号: 202211030140.4 申请日: 2022-08-26
公开(公告)号: CN115117205B 公开(公告)日: 2022-11-15
发明(设计)人: 葛超洋;谢儒彬;吴建伟;杨强 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第五十八研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/107;H01L31/0352
代理公司: 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 代理人: 杨立秋
地址: 214000 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开一种硅基雪崩光电二极管的抗辐照加固方法,属于半导体光电探测器领域。N型收集环及加固注入区为用于抗辐照的结构,N型收集环用于收集器件外围区域的电流,防止对有效的倍增信号产生干扰;通过在器件外围区域的场氧下方引入一道P型加固注入区,防止该弱P型区域在辐照条件下反型成N型形成漏电流通道,即阻止该区域反型造成N型结截止扩展环、N型收集环与电通道截止环之间的漏电。另外,也保证了雪崩击穿总是发生在器件中心位置的P型雪崩区中。该方法降低了硅基雪崩光电二极管辐照后的暗电流,提高了硅基雪崩光电二极管的抗辐照能力。
搜索关键词: 一种 雪崩 光电二极管 辐照 加固 方法
【主权项】:
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